JIS C7022-1979 半导体集成电路的环境和耐久性试验方法
【原文标准名称】:半导体集成电路的环境和耐久性试验方法
【标准号】:JISC7022-1979
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:Electronics
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体;集成电路工艺;集成电路;耐久试验;试验;环境试验;半导体器件
【英文主题词】:semiconductordevices;semiconductors;;;environmentaltesting;endurancetesting;testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:38P;A4
【正文语种】:日语